课程内容：

第二版SPC相对于第一版的更改：

1. 强调理解“过程”和“过程变差及其原因”的重要性

2. 强调过程控制的“经济性”考虑;

3.适应发展的需求对控制图改进，如：短期控制图，自相关，计数型控制图；

4. 增加了多种控制图，包括更易于作业者使用的控制图，如：停止信号法

5.强调做“事件日志”，记录重大事件，以利于进行分析 ；

6.清楚区分了Cp/Cpk,Pp/Ppk ；

7. 考虑了管理体系标准的要求，内容更丰富。

本课程的内容是建立在正态分布的基础上；对非正态分布的数据，可能需要其他的处理技术。

一、控制图基础 —过程

在APQP阶段对产品/制造设计开发的验证和确认(PPAP)要依赖数据；

在SOP后，对产品和制程的监视依赖数据。

在出现重大变更时的验证确认要依赖数据。

Ø使用对测量数据的统计结果监控过程变差，使其稳定受

控的生产所需产品； 活动： 证明使用数据统计的好处

Ø统计分布要素：位置、宽度、形状

Ø统计分布要素的改变—变差

一、控制图基础 —数据变化的普通原因 和 特殊原因

一、控制图基础 —普通原因变差 / 特殊原因变差

Ø大多情况下，过程只存在普通原因变差时，其分布是正态分布；

Ø 正态分布规律是使用控制图的基础。

变差都是有害的。

“普通原因变差”是制造系统的固有变差，制造系统配置（设备、设施、模具、员工能力、优秀供应商、环境控制）越精良，方法越稳定， “普通原因变差”越小，过程能力越高 。

对一个新过程，了解其能力满足要求的程度，是对策划过程（资源配置和方法）工作结果的检验—分析用控制图。

“普通原因变差”不可消除或改进它时花费的成本高（如：采购更好的设备做系统升级）。

由于“特殊原因变差”导致了产品特性偏离目标值或影响分散性，使过程不受控，可能产生批量不合格，发现、消除、改进它们将是对过程进行控制的重点活动—控制用管制图的目的。

一、控制图基础 —控制图结构

常用控制图分类

Ø计量型

Xbar-R图 Xbar-S图 X~-R图 X-MR图

Ø计数型

P图 nP图 C图 U图

活动1：请各小组，给出各工序可以使用的控制图。

二、新过程（或更改过程）的初始能力研究

初始过程研究时的Cp/Cpk Pp/Ppk见后

三、SOP后控制图的应用—过程监控

Ø 一份好的控制图内应包括： X R 直方图 Cp/Cpk Pp/Ppk 事件记录 异常原因分析和措施记录。

ØCp/Cpk Pp/Ppk 理解

传统控制图面临的挑战：

活动7：各小组分析给出控制图是否出现了异常？为什么？

停止信号法（1）

活动8： 各小组请回答，控制图判异准则的基础原理是什么？

当控制图出现异常时，而原因暂时很难明确是，分析应：

1.首先排除人为错误，如：误读，记数错误等。如ok ，则：

2. 分析测量系统的分辨力是否充分或MS的是否存在变异；S.W.I.P.E 如ok ，则：

3. 借助《事件记录》识别更改的过程因素，分析其影响； 如ok ，则：

4. 分析制程的起因，需借助：经验，失效-起因数据库，PFMEA，FAT或DOE等； 5M1E。

5. 使用8D方法整改问题，关键是最终的系统性和标准化。

6. 过程得到优化时，过程的分散性可能会变窄，需重新计算控制限

系统性过程因素——蓝色代表发生在先期的活动；绿色代表发生在量产后的活动

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